表面分析手法のひとつ、全反射蛍光X線分析法に関する国際会議（英語セッション）と、X線分析法全般に関する国内討論会（日本語セッション）の合同開催会議です。
■主催： 日本分析化学会X線分析研究懇談会
■共催：大阪市立大学
■協賛： 応用物理学会・環境科学会・環境資源工学会・日本機械学会・資源素材学会・石油学会・繊維学会・大気環境学会・電気学会・電気化学会・土木学会・日本結晶学会・日本材料学会・日本生化学会・日本セラミックス協会・日本農芸化学会・日本放射光学会・日本分光学会・日本薬学会・廃棄物資源循環学会・表面分析研究会・粉体粉末冶金協会・日本分析化学会・日本鉄鋼協会・日本金属学会・日本表面科学会・PF-ユーザアソシエーション（旧PF懇談会）・SPring-8ユーザー協同体（旧SPring-8利用者懇談会）・触媒学会・近畿化学協会・関西分析研究会・日本化学会（案）
■日時： 2013年9月23~27日
■場所：大阪市立大学
■参加費：6/30まで申込25,000円、7/1以降35,000円
■プログラム：
9月23日Welcome party, Registration
9月24日Special sessions, Poster session-1
9月25日Special sessions, Poster session-2, Mixer
9月26日Excursion and special session in Japanese in parallel, Banquet
9月27日Special sessions, Closing
■問合せ先：大阪市立大学大学院工学研究科化学生物系専攻 辻 幸一
E-mail:tsuji(a)a-chem.eng.osaka-cu.ac.jp （（a）を@に変更後、送信下さい）TEL: 06-6605-3080
■参加費、プログラム等の詳細はこちらのホームページをご覧ください
http://www.a-chem.eng.osaka-cu.ac.jp/txrf2013/ [1]